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  • X荧光光谱仪X 射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为 0.001‐ 10nm 左右。X 射线照射到 物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种 X 射线。荧光 X 射线、散射 X 射线、透过 X 射线,ESI英飞思NT 产品使用的是通过对一种荧光 X 射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光 X 射线法原理。物质受到 X 射线的照射时,发生元素所固有的 X 射线(固有 X 射线或者特征 X 射线)。荧光 X 射线装置就是通过对该 X 射线的检测而获取元素信息。

  • X荧光光谱仪(1) 工作曲线法就是利用标准样品先建立一条标准的校正曲线,测试时再根据这个曲线计算测量结果。用已知浓度的几个标准样品测强度,得到一系列相应的强度信号 ,强度和浓度对应形成一系列的点,通过软件拟合成一条标准曲线,测试样品时,仪器测试到一个信号强度,对应这条曲线,可以知道对应的浓度. (2)标准工作曲线法相对 FP 法来说确度较高,但是由于仪器本身存在背景强度,导致低于背景强度的样品出现负值,标准品及强度漂移影响曲线的度、曲线的检出限及曲线上限问题。

  • X荧光光谱仪 (2) 测量镀层厚度,为求准确好购买标片建档. 如果需要管控 PCB 中有害物质,可以粉碎后混测,也可购买有面扫描功能的仪器,扫描后再确定哪个点可能有问题,后再准确定量。

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