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  • X荧光光谱仪(1) 要分清楚关注的对象,荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪,其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。

  • X荧光光谱仪X 射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为 0.001‐ 10nm 左右。X 射线照射到 物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种 X 射线。荧光 X 射线、散射 X 射线、透过 X 射线,ESI英飞思NT 产品使用的是通过对一种荧光 X 射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光 X 射线法原理。物质受到 X 射线的照射时,发生元素所固有的 X 射线(固有 X 射线或者特征 X 射线)。荧光 X 射线装置就是通过对该 X 射线的检测而获取元素信息。

  • X荧光光谱仪 (2) 测量镀层厚度,为求准确好购买标片建档. 如果需要管控 PCB 中有害物质,可以粉碎后混测,也可购买有面扫描功能的仪器,扫描后再确定哪个点可能有问题,后再准确定量。

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